Java Card 小程序中的一个典型错误是将持久内存用于应该在 RAM 中的临时变量。
这些错误会减慢小程序的速度并导致一些严重的问题（例如EEPROM损坏的症状）。
单元测试几乎无法揭示这些错误。单元测试将小程序作为黑盒访问，它们所能做的就是检查给定输入的输出。当然，它们可以测量时间并报告可疑的慢命令，但是覆盖持久内存中的单个字节与覆盖RAM中的单个字节所需的时间几乎相同。
有没有办法摆脱这些错误（除了编码时要小心）？我能否以某种方式检测EEPROM更改，以及在处理特定APDU时完成了多少更改？
当然，一个好的模拟器可以完成这项工作。然而，JCardSim（www.jcardsim.org）和恩智浦JCOP工具似乎都远不能报告EEPROM使用情况统计数据。
您知道任何其他可能对我有帮助的工具或测试技术吗？
可以实现测试命令并添加返回可用内存的测试场景。这可以通过getAvailableMemory(byte memoryType);来实现