我有一个启用了硬件百分比接近过滤的阴影图。但我也需要获得存储在阴影贴图中的深度值，以便在像素着色器中使用它来实现其他技术。问题是，所有采样函数（tex2D，tex2Dproj）都返回深度比较的最终结果。它运行良好，但我无法获得深度值本身。
是否可以为阴影映射保留硬件PCF并对深度值本身进行采样？
但是有一个限制，我无法处理应用程序如何创建阴影贴图，我只能编辑着色器。
如果您能找到一个未使用的SamplerState/sampler2D绑定槽，您应该能够在那里声明一个，并将其与通用Sample/tex2D操作一起使用。由于采样器状态槽已被应用程序解除绑定，因此驱动程序应使用默认的点采样设置。如果深度缓冲区支持这种类型的访问，它应该返回预PCF值。