颤振测试:输入芯片单击删除

Question

我在应用程序中使用 InputChips。

InputChip(
key: Key(label.id),
label: Text(label.name),
onDeleted: () => deleteChip(),
),

我现在想创建单元测试来测试删除功能。不幸的是，我在单元测试中找不到按芯片删除图标的方法。有了await tester.tap(find.byKey(Key('1')));就可以找到芯片。我现在如何定义我要单击芯片上的删除图标？

Answer 1

您的查找器正在查找并点击InputChip本身，而不是芯片上的"X"。

您的查找器应如下所示：

find.descendant(
of: find.byKey(Key(label.id)),
matching: find.byIcon(Icons.cancel),
);

这说"找到InputChip的后裔，他是cancelIcon.然后，如果您想:)，可以点击它

当您缺少点击目标，或者不确定测试中发生了什么时，请在运行debugDumpApp();后查看控制台